Simulationssystem für Atomkraftmikroskopie
Rastersondenmikroskop
Opus Series 300
Die Rastersondenmikroskope der Opus Serie 300 setzen eine neuartige astigmatische Erkennungsmethode ein, mit der sich Materialien bis zu einer Auflösung von 2 nm darstellen lassen. Die Vorreiter auf dem Gebiet der Nanoforschung zeichnen sich dadurch aus, dass Forscher und Techniker selbst komplexe Bestimmungsexperimente einfach durchführen können. Die Einstellungen für den mehrstufigen Prozess zur Vorbereitung eines Scans sind vereinfacht worden. Deshalb kann das Kalibrieren, Laden und Positionieren des Mikroskops intuitiv erfolgen. Die Probe wird in einer abgedichteten Kammer platziert, dadurch werden Störungen aus der Umgebung reduziert, die das Bildsignal beeinträchtigen könnten. Das kompakt gestaltete Mikroskop besitzt eine klare rechteckige Form. Bei einer Grundfläche von 145 x 155 mm ist es in geschlossenem Zustand 188 mm und bei geöffneter Kammer 268 mm hoch. Es besitzt eine Ethernet-Schnittstelle zur Datenübertragung.
Credits
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Hersteller:ARDIC Instruments Co., Taiwan
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In-house design:ARDIC Instruments Co., Edwin Hwu, Oscar Chang, Taiwan
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Design:KAMIA (Herman Liang, Yujen Lin), Taiwan